高精度晶振測試儀

1．概述

CX-118A型晶振測試儀使用微處理器技術，實現了智能化測量。本系列儀器采用倒數計數技術實現等精度測量。它測量精度高，靈敏度高，速度快，閘門時間可選；具有頻率測量、周期測量、PPM測量、分檔測量、上下限測量、累加計數等功能；中心頻率（標稱頻率）F₀、分檔值P_r1～P_r8(ppm) 、上限頻率F_U、下限頻率F_L可任意設定并能存儲。該機前置電路有低通濾波器、衰減器等。特別適合晶體行業、郵電、通信、廣播電視、學校、研究所及工礦企業的生產和科研之用。

2．主要特征

2．1 本機采用倒數計數技術，測量精度高，測量范圍寬，真正實現等精度測量，測量速度快，靈敏度高。

2．2 采用單片微機技術進行周期頻率測量和智能化管理，使得儀器具有很高的可靠性和優良的性能／價格比。

2．3 整機采用大規模集成電路設計，CPLD器件的運用，使儀器元器件大為減少，可靠性有了很大的提高，平均*工作時間≥10000h。

·     整機外型美觀大方，體積小，重量輕，使用方便。

3．技術參數

3.1 測量范圍

·     頻率測量：A通道:1Hz～100MHz；

B通道:100MHz～1.6GHz(選件)

·     周期測量：A通道:10ns～1s

·     PPM測量：-9999～9999ppm

·     上、下限測量：可根據用戶所設定的上限參數F_U、下限參數F_L來測量被測頻率是否超出上、下限，超限則報警。

·     分檔測量：根據用戶所設定的中心頻率F₀自動進行分檔測量。 分檔值：P_r1～P_r8可在1～999ppm之間任意設置

分檔檔數：以中心頻率F₀為中點左右分成16檔

·     累加計數：計數容量：0～10⁹－1 (選件)

計數方式：鍵控、門控或外門控可選。

3.2 輸入特性

·     輸入阻抗： A通道: 1MΩ//40pF

B通道: 50Ω

3.2.2 輸入耦合方式：AC

3.2.3 波形適應性：正弦波、脈沖波

·     輸入電壓動態范圍:

A通道：30mVrms～250Vp～p

B通道: 30mVrms～1Vrms

3.2.5 A通道低通濾波器：－3dB 帶寬約100kHz

3.2.6 A通道衰減：×1或×20

3.3 測量誤差

3.3.1 頻率或周期測量誤差：±時基誤差±觸發誤差±LSD

100ns

其中：LSD＝─────×被測頻率（或被測周期）

閘門時間

觸發誤差：當被測信號的信噪比為40dB時，觸發誤差≤0.3%

·     PPM測量誤差：±時基誤差±觸發誤差±LSD

其中：LSD＝(100ns/閘門時間)×10⁶ppm

例如：閘門時間=1s時 LSD＝0.1ppm

閘門時間=0.1s時 LSD＝1ppm

3.3.3 計數誤差：±1

3.4閘門時間

固定閘門：10ms、100ms、1s、10s 四檔可選；

可調閘門：50ms～95ms 分10檔，每檔間隔5ms。

3.5 晶體振蕩器

標稱頻率：10MHz

頻率穩定度：5×10^-6/d

（可根據用戶需求，選配更高量級的晶振。

如：1×10^-6/d、5×10^-7/d、1×10^-7/d等）。

3.6 外頻標輸入

輸入頻率：10MHz

輸入幅度：>1Vp～p 正弦波

3.7 顯示

13位0.4吋綠色高亮數碼管，三個單位LED指示燈（MHz、kHz、Hz），一個閘門LED指示燈(GATE)，一個外頻標LED指示燈(EXT)和一個PPM單位指示燈（PPM）。

3.8 電源

電壓：交流220V±10%

頻率：50Hz±5%

功耗：<8VA

3.9 外形尺寸：230×250×90(mm)

3.10 質量：<1.5kg

晶振測試盒選配：

晶體測量匹配器：

1Hz    32.768KHZ-20MHz （標配）

20MHz-40MHz ,

40MHz-65MHz

65MHz-100MHz .